超硅
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專利信息62
| 序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 一種集成電路用硅片無損傷轉(zhuǎn)移方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258603.7 | CN113496930A | 2021-10-12 |
| 2 | 一種集成電路硅片表面氧化膜自適應均勻腐蝕方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258262.3 | CN113496891A | 2021-10-12 |
| 3 | 一種集成電路用硅片的均勻腐蝕方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258298.1 | CN113496887A | 2021-10-12 |
| 4 | 一種集成電路用單晶硅片堿腐蝕去除量的控制方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258257.2 | CN113496886A | 2021-10-12 |
| 5 | 一種外延基底用硅晶片之背面膜層及制造方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258596.0 | CN113496871A | 2021-10-12 |
| 6 | 一種集成電路用硅片邊緣形貌控制方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258530.1 | CN113496870A | 2021-10-12 |
| 7 | 一種外延基底用硅晶片之背面膜層及制造方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258297.7 | CN113496869A | 2021-10-12 |
| 8 | 一種硅片的拋光后清洗方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258268.0 | CN113496868A | 2021-10-12 |
| 9 | 硅片金屬雜質(zhì)檢測樣品保護裝置及硅片金屬雜質(zhì)檢測方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258528.4 | CN113495095A | 2021-10-12 |
| 10 | 一種減少拋光片表面劃痕方法 | 發(fā)明專利 | CN202010258285.4 | CN113492399A | 2021-10-12 |
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