菲萊測(cè)試
上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司
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專利信息12
| 序號(hào) | 專利名稱 | 專利類型 | 申請(qǐng)?zhí)?/th> | 公開(kāi)(公告)號(hào) | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 一種大功率光芯片檢測(cè)平臺(tái) | 發(fā)明專利 | CN202110634309.6 | CN113092994B | 2021-09-10 |
| 2 | 一種大功率光芯片檢測(cè)平臺(tái) | 發(fā)明專利 | CN202110634309.6 | CN113092994A | 2021-07-09 |
| 3 | 一種光芯片快速壓接檢測(cè)裝置 | 發(fā)明專利 | CN202011414155.1 | CN112197820B | 2021-03-02 |
| 4 | 一種用于激光器芯片集成測(cè)試的方法及系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN202011342433.7 | CN112147490B | 2021-03-02 |
| 5 | 一種光芯片快速壓接檢測(cè)裝置 | 發(fā)明專利 | CN202011414155.1 | CN112197820A | 2021-01-08 |
| 6 | 一種用于激光器芯片集成測(cè)試的方法及系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN202011342433.7 | CN112147490A | 2020-12-29 |
| 7 | 一種提高芯片測(cè)試溫度控制精度的方法和裝置 | 發(fā)明專利 | CN202011212877.9 | CN112098814B | 2020-12-18 |
| 8 | 一種提高芯片測(cè)試溫度控制精度的方法和裝置 | 發(fā)明專利 | CN202011212877.9 | CN112098814A | 2020-12-18 |
| 9 | 一種激光器芯片老化和LIV測(cè)試檢測(cè)方法、系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN202011038287.9 | CN111880087A | 2020-11-03 |
| 10 | 一種激光器COB封裝電路板 | 實(shí)用新型 | CN202021502947.X | CN211457533U | 2020-09-08 |
軟件著作權(quán)0
暫無(wú)軟件著作權(quán)
作品著作權(quán)0
暫無(wú)作品著作權(quán)
網(wǎng)站備案2

| 序號(hào) | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號(hào) | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司 | www.feedlitech.com | 滬ICP備2020031225號(hào) | 企業(yè) | 2020-10-16 |
| 2 | 上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司 | www.feedlitech.com | 滬ICP備2020031225號(hào) | 企業(yè) | 2020-10-16 |
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