一種激光器芯片老化和LIV測試檢測方法、系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011038287.9 申請日 -
公開（公告）號 CN111880087A 公開（公告）日 2020-11-03
申請公布號 CN111880087A 申請公布日 2020-11-03
分類號 G01R31/28(2006.01)I;H01S3/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張華;薛銀飛;黃河 申請（專利權）人 上海菲萊測試技術有限公司
代理機構 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 上海菲萊測試技術有限公司
地址 201210上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)祥科路111號3號樓717室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種激光器芯片老化和LIV測試的檢測方法、系統(tǒng)，處理器根據(jù)上位機指示進行老化和LIV測試;處理器通過控制熱沉及加熱模塊給芯片載具加熱，直到溫度穩(wěn)定在預先設定的溫度值，處理器再對每一顆芯片進行加電，回讀加載在芯片上的電流值和電壓值及光功率值；在進行LIV測試流程時，對加電控制和電流電壓監(jiān)控模塊采用的加電方式是步進式掃描，并間隔固定的時間回讀加載在芯片上的電流值和電壓值及激光器芯片的光功率值，處理器將獲取的值通過通訊接口發(fā)送給上位機；上位機顯示所獲取的信息；本發(fā)明能提高激光器芯片檢測效率、減少占地資源并能實現(xiàn)設備的復用率。??