一種用于激光器芯片集成測(cè)試的方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011342433.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112147490B | 公開（公告）日 | 2021-03-02 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112147490B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-02 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 張華;薛銀飛;黃河 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 黃啟兵 |
| 地址 | 200120上海市浦東新區(qū)中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)祥科路111號(hào)3號(hào)樓717室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種用于激光器芯片集成測(cè)試的方法及系統(tǒng)，所述方法包括：獲得第一激光器芯片的第一需求信息和第一測(cè)試環(huán)境信息；判斷第一測(cè)試環(huán)境信息是否滿足第一預(yù)設(shè)條件；若滿足獲得第一操作命令；分別獲得第一、二溫度梯度差值對(duì)第一激光器芯片溫度的第一、二影響度；判斷第一、二影響度是否處于預(yù)設(shè)影響度閾值范圍；如果均處于，將光譜測(cè)試儀與第一激光器芯片連接；獲得第一激光器芯片的實(shí)時(shí)光譜數(shù)據(jù)信息；獲得第一激光器芯片的實(shí)時(shí)芯片結(jié)溫信息和預(yù)設(shè)芯片結(jié)溫信息；判斷實(shí)時(shí)芯片結(jié)溫信息是否處于預(yù)設(shè)芯片結(jié)溫信息范圍內(nèi)；若處于，則獲得第二操作命令。解決了傳統(tǒng)的需要兩臺(tái)設(shè)備進(jìn)行需求測(cè)試，以及需要人為干預(yù)測(cè)試的技術(shù)問題。?? |
