偉測(cè)
上海偉測(cè)半導(dǎo)體科技股份有限公司
存續(xù)商標(biāo)信息3
專利信息31
| 序號(hào) | 專利名稱 | 專利類型 | 申請(qǐng)?zhí)?/th> | 公開(公告)號(hào) | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 一種懸臂式探針壽命測(cè)算方法 | 發(fā)明專利 | CN202110234623.5 | CN113077833A | 2021-07-06 |
| 2 | 一種93K測(cè)試機(jī)與待測(cè)產(chǎn)品的匹配性檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法 | 發(fā)明專利 | CN202110234625.4 | CN113075521A | 2021-07-06 |
| 3 | 腐蝕粉在整形鉑金探針的應(yīng)用和鉑金探針的整形方法 | 發(fā)明專利 | CN202110234659.3 | CN113073376A | 2021-07-06 |
| 4 | 一種超薄晶圓的檢測(cè)方法和類普通晶圓 | 發(fā)明專利 | CN202110234639.6 | CN113066733A | 2021-07-02 |
| 5 | 一種晶圓MAP圖的轉(zhuǎn)換系統(tǒng)和轉(zhuǎn)換方法 | 發(fā)明專利 | CN202110234648.5 | CN113011139A | 2021-06-22 |
| 6 | 晶圓區(qū)域性問題的分析系統(tǒng)及方法 | 發(fā)明專利 | CN202110310750.9 | CN112710942B | 2021-06-08 |
| 7 | 晶圓區(qū)域性問題的分析系統(tǒng)及方法 | 發(fā)明專利 | CN202110310750.9 | CN112710942A | 2021-06-08 |
| 8 | 多晶硅工藝保險(xiǎn)絲的熔斷裝置及方法 | 發(fā)明專利 | CN202110248636.8 | CN112630628B | 2021-05-18 |
| 9 | 多晶硅工藝保險(xiǎn)絲的熔斷裝置及方法 | 發(fā)明專利 | CN202110248636.8 | CN112630628A | 2021-04-09 |
| 10 | 一種WaferID燒寫防呆的系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN202011523844.6 | CN112256291B | 2021-03-26 |
軟件著作權(quán)5
| 序號(hào) | 軟件名稱 | 軟件簡(jiǎn)稱 | 版本號(hào) | 登記號(hào) | 分類號(hào) | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 偉測(cè)測(cè)試機(jī)TSK探針臺(tái)的 Map 圖轉(zhuǎn)換方法軟件 | TSK探針臺(tái)的 Map 圖轉(zhuǎn)換 | V1.0 | 2022SR0460745 | - | - | 2022-04-13 |
| 2 | 偉測(cè)測(cè)試機(jī)STDF文件到TSK探針臺(tái)的Map圖轉(zhuǎn)換軟件 | STDF文件到TSK探針臺(tái)的Map圖轉(zhuǎn)換 | V1.0 | 2022SR0460719 | - | - | 2022-04-13 |
| 3 | 偉測(cè)半導(dǎo)體芯片測(cè)試過程斷電防護(hù)管理軟件 | - | V1.0 | 2022SR0454479 | - | - | 2022-04-12 |
| 4 | 偉測(cè)半導(dǎo)體芯片測(cè)試參數(shù)信息管理軟件 | - | V1.0 | 2022SR0451163 | - | - | 2022-04-11 |
| 5 | 偉測(cè)自動(dòng)測(cè)試報(bào)告系統(tǒng) | 自動(dòng)測(cè)報(bào)系統(tǒng) | V1.0 | 2017SR457566 | 30200-0000 | 2017-06-05 | 2017-08-18 |
作品著作權(quán)0
暫無作品著作權(quán)
網(wǎng)站備案5

| 序號(hào) | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號(hào) | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 上海偉測(cè)半導(dǎo)體科技股份有限公司 | www.v-test.com.cn | 滬ICP備16034671號(hào) | 企業(yè) | 2021-08-12 |
| 2 | 上海偉測(cè)半導(dǎo)體科技股份有限公司 | www.v-test.com.cn | 滬ICP備16034671號(hào) | 企業(yè) | 2021-08-12 |
| 3 | - | www.v-test.com.cn | 滬ICP備16034671號(hào) | 企業(yè) | 2021-08-12 |
| 4 | 上海偉測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司 | www.v-test.com.cn | 滬ICP備16034671號(hào) | 企業(yè) | 2016-08-30 |
| 5 | 上海偉測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司 | www.v-test.com.cn | 滬ICP備16034671號(hào) | 企業(yè) | 2016-08-30 |
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