一種WaferID燒寫防呆的系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011523844.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112256291B | 公開（公告）日 | 2021-03-26 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112256291B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-26 |
| 分類號(hào) | G06F8/61(2018.01)I;G06F11/36(2006.01)I;G06F8/70(2018.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 駢文勝;傅郁曉 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海偉測(cè)半導(dǎo)體科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海領(lǐng)洋專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 羅曉鵬 |
| 地址 | 201599上海市浦東新區(qū)東勝路38號(hào)A區(qū)2棟2F | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種Wafer ID燒寫防呆的系統(tǒng)，該系統(tǒng)以現(xiàn)有的MES系統(tǒng)為基礎(chǔ)，在該系統(tǒng)內(nèi)部至少開發(fā)訂單錄入模塊、測(cè)試訪問模塊和數(shù)據(jù)比對(duì)模塊；其中，訂單錄入模塊用于自動(dòng)讀取并錄入客戶下單時(shí)實(shí)物Wafer ID的原始數(shù)據(jù)信息；測(cè)試訪問模塊用于與測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)連通，獲取測(cè)試機(jī)中實(shí)時(shí)錄入的Wafer ID的測(cè)試數(shù)據(jù)：數(shù)據(jù)比對(duì)模塊用于將訂單錄入模塊錄入的原始數(shù)據(jù)與測(cè)試機(jī)中獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，并分析比對(duì)結(jié)果。本技術(shù)方案在測(cè)試開始前將輸入錯(cuò)誤的信息及時(shí)比對(duì)，并反饋出來改正，避免了錄入錯(cuò)誤的信息未被發(fā)現(xiàn)時(shí)，出現(xiàn)燒寫入芯片內(nèi)的Wafer ID錯(cuò)誤情況，以及由此引起的晶圓測(cè)試數(shù)據(jù)異常和晶圓損失等質(zhì)量事故的出現(xiàn)，對(duì)芯片測(cè)試效率的提升有著深遠(yuǎn)的意義。?? |
