閱芯
商標(biāo)信息10
| 序號 | 商標(biāo)名稱 | 國際分類 | 注冊號 | 狀態(tài) | 申請日期 | 操作 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | PRALITA | 42類-網(wǎng)站服務(wù) | 43271967 | 商標(biāo)已注冊 | 2019-12-23 | 查看 |
| 2 | PRAVATAR | 09類-科學(xué)儀器 | 43255133 | 商標(biāo)已注冊 | 2019-12-23 | 查看 |
| 3 | PRTHERMALX | 09類-科學(xué)儀器 | 39659858 | 商標(biāo)已注冊 | 2019-07-15 | 查看 |
| 4 | PRSMARTLAB | 42類-網(wǎng)站服務(wù) | 38611464 | 商標(biāo)已注冊 | 2019-06-02 | 查看 |
| 5 | AVATAR | 09類-科學(xué)儀器 | 37480365 | 商標(biāo)無效 | 2019-04-12 | 查看 |
| 6 | LITA | 42類-網(wǎng)站服務(wù) | 37464774 | 商標(biāo)無效 | 2019-04-12 | 查看 |
| 7 | SMAR T-LAB | 42類-網(wǎng)站服務(wù) | 32961566 | 商標(biāo)無效 | 2018-08-17 | 查看 |
| 8 | THERMALX | 09類-科學(xué)儀器 | 32861741 | 駁回復(fù)審中 | 2018-08-13 | 查看 |
| 9 | HTXB | 09類-科學(xué)儀器 | 32841632 | 商標(biāo)已注冊 | 2018-08-13 | 查看 |
| 10 | 閱芯科技 RIME-REL | 07類-機(jī)械設(shè)備 | 25880055 | 商標(biāo)已注冊 | 2017-08-15 | 查看 |
專利信息54
| 序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 氣動(dòng)繼電器裝置 | 實(shí)用新型 | CN202122781337.9 | CN216120121U | 2022-03-22 |
| 2 | 半導(dǎo)體功率器件用模塊化自動(dòng)上下料裝置 | 發(fā)明專利 | CN202111555253.1 | CN114162618A | 2022-03-11 |
| 3 | 適用于功率循環(huán)試驗(yàn)的多參數(shù)配置方法 | 發(fā)明專利 | CN202111509661.3 | CN114117152A | 2022-03-01 |
| 4 | 適用于壓接式功率半導(dǎo)體器件的測試裝置 | 發(fā)明專利 | CN202111415479.1 | CN114035017A | 2022-02-11 |
| 5 | 秒級功率循環(huán)試驗(yàn)中試驗(yàn)條件的搜索確定方法 | 發(fā)明專利 | CN202111383793.6 | CN113820582B | 2022-02-08 |
| 6 | 秒級功率循環(huán)試驗(yàn)中試驗(yàn)條件的搜索確定方法 | 發(fā)明專利 | CN202111383793.6 | CN113820582A | 2021-12-21 |
| 7 | 半導(dǎo)體功率器件測試用熱能交換調(diào)節(jié)裝置 | 實(shí)用新型 | CN202120686835.2 | CN214620789U | 2021-11-05 |
| 8 | 信號的高頻震蕩特征處理方法 | 發(fā)明專利 | CN202110622371.3 | CN113361389A | 2021-09-07 |
| 9 | 可控制高溫環(huán)境老化壽命試驗(yàn)箱溫度變化過程的方法及系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201811604900.1 | CN109613414B | 2021-06-25 |
| 10 | 可控制高溫環(huán)境老化壽命試驗(yàn)箱溫度變化過程的方法及系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201811604900.1 | CN109613414A | 2021-06-25 |
軟件著作權(quán)61
| 序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 壓接式半導(dǎo)體模塊熱阻測試系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0135690 | - | 2021-11-24 | 2022-01-20 |
| 2 | 半導(dǎo)體芯片測試壓力控制系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0108476 | - | 2021-11-29 | 2022-01-17 |
| 3 | 半導(dǎo)體芯片測試溫控系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0098984 | - | 2021-11-26 | 2022-01-14 |
| 4 | 半導(dǎo)體芯片阻抗分析系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0098983 | - | 2021-11-24 | 2022-01-14 |
| 5 | MEMS器件在片測試系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0098814 | - | 2021-12-01 | 2022-01-14 |
| 6 | 壓接式半導(dǎo)體模塊功率循環(huán)測試系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0063960 | - | 2021-11-22 | 2022-01-11 |
| 7 | 半導(dǎo)體器件加速老化測試系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0054395 | - | 2021-11-15 | 2022-01-10 |
| 8 | 壓接式半導(dǎo)體模塊老化測試系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0054394 | - | 2021-11-15 | 2022-01-10 |
| 9 | 壓接式半導(dǎo)體模塊動(dòng)態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0054132 | - | 2021-11-17 | 2022-01-10 |
| 10 | 壓接式半導(dǎo)體模塊靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) | - | V1.0 | 2022SR0054131 | - | 2021-11-18 | 2022-01-10 |
作品著作權(quán)0
暫無作品著作權(quán)
網(wǎng)站備案3

| 序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 山東閱芯電子科技有限公司 | www.prime-rel.com | 魯ICP備19018968號 | 企業(yè) | 2019-04-23 |
| 2 | 山東閱芯電子科技有限公司 | www.prime-rel.com | 魯ICP備19018968號 | 企業(yè) | 2019-04-23 |
| 3 | - | www.prime-rel.com | 魯ICP備19018968號 | 企業(yè) | 2019-04-23 |
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