中機(jī)
長春中機(jī)試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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專利信息7
| 序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 全應(yīng)變測量式原位納米壓/劃痕測試裝置 | 發(fā)明專利 | CN201210413791.1 | CN102928308B | 2014-07-09 |
| 2 | 顯微組件下跨尺度原位微納米三點(diǎn)/四點(diǎn)彎曲測試裝置 | 發(fā)明專利 | CN201110353825.8 | CN102494955B | 2013-04-24 |
| 3 | 顯微組件下跨尺度原位微納米三點(diǎn)/四點(diǎn)彎曲測試裝置 | 發(fā)明專利 | CN201110353825.8 | CN102494955A | 2013-04-24 |
| 4 | 顯微組件下跨尺度原位微納米拉伸/壓縮液壓驅(qū)動測試裝置 | 發(fā)明專利 | CN201110353413.4 | CN102384878B | 2013-04-24 |
| 5 | 全應(yīng)變測量式原位納米壓/劃痕測試裝置 | 發(fā)明專利 | CN201210413791.1 | CN102928308A | 2013-02-13 |
| 6 | 顯微組件下跨尺度原位微納米拉伸/壓縮液壓驅(qū)動測試裝置 | 發(fā)明專利 | CN201110353413.4 | CN102384878A | 2012-03-21 |
| 7 | PCI總線通用力學(xué)性能高精度測量控制系統(tǒng) | 實(shí)用新型 | CN200920094433.2 | CN201654521U | 2010-11-24 |
軟件著作權(quán)1
| 序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Test Expert.NET 通用試驗(yàn)軟件 | - | V3.0 | 2011SR047738 | - | 2010-12-30 | 2011-07-14 |
作品著作權(quán)0
暫無作品著作權(quán)
網(wǎng)站備案0

暫無網(wǎng)站備案
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