澤爾尼
上海澤爾尼儀器有限公司
注銷商標(biāo)信息2
專利信息3
| 序號(hào) | 專利名稱 | 專利類型 | 申請(qǐng)?zhí)?/th> | 公開(公告)號(hào) | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 集成電路工藝檢測(cè)設(shè)備(Xi-Line 500) | 外觀專利 | CN200930099015.8 | CN301139091D | 2010-02-17 |
| 2 | 集成電路工藝檢測(cè)設(shè)備(Xi-Line 530) | 外觀專利 | CN200930099014.3 | CN301139090D | 2010-02-17 |
| 3 | 集成電路測(cè)量設(shè)備(Xi-Line 200型) | 外觀專利 | CN200630195931.8 | CN300732351D | 2008-01-16 |
軟件著作權(quán)1
| 序號(hào) | 軟件名稱 | 軟件簡(jiǎn)稱 | 版本號(hào) | 登記號(hào) | 分類號(hào) | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Xi-Sys集成電路尺寸測(cè)量及缺陷分析軟件 | - | 1.0.0 | 2009SR048543 | 61000-4000 | 2005-08-15 | 2009-10-23 |
作品著作權(quán)0
暫無作品著作權(quán)
網(wǎng)站備案0

暫無網(wǎng)站備案
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