集成電路工藝檢測設(shè)備(Xi-Line 500)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200930099015.8 申請日 -
公開（公告）號 CN301139091D 公開（公告）日 2010-02-17
申請公布號 CN301139091D 申請公布日 2010-02-17
分類號 10-05 分類 -
發(fā)明人 謝歷銘 申請（專利權(quán)）人 上海澤爾尼儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海世貿(mào)專利代理有限責(zé)任公司 代理人 上海澤爾尼儀器有限公司
地址 201411上海市奉賢區(qū)奉城鎮(zhèn)人本工業(yè)園德勝路111號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.使用本外觀設(shè)計的產(chǎn)品為大型落地產(chǎn)品，省略仰視圖。2.使用本外觀設(shè)計的產(chǎn)品為高精度全自動無接觸集成電路工藝檢測設(shè)備。3.使用本外觀設(shè)計的產(chǎn)品用于全自動無接觸封裝焊絲缺陷檢測。