九州勘探
商標(biāo)信息4
專利信息3
| 序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 高密度電性參數(shù)監(jiān)測專用巖芯夾持器 | 發(fā)明專利 | CN201711230381.2 | CN109839344A | 2019-06-04 |
| 2 | 高密度電性參數(shù)監(jiān)測專用原位巖芯夾持器 | 發(fā)明專利 | CN201711230379.5 | CN109839343A | 2019-06-04 |
| 3 | 高密度電性參數(shù)監(jiān)測的多尺度巖芯滲透率測定技術(shù) | 發(fā)明專利 | CN201711229379.3 | CN109839342A | 2019-06-04 |
軟件著作權(quán)3
| 序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 含邊界條件的TOUGH2專用四面體微元網(wǎng)格生成軟件(Tetrahedron MESH Generation for TOUGH2 with Boundary Conditions Definition) | TetraMESH | V2016 | 2017SR701296 | 30200-0000 | - | 2017-12-18 |
| 2 | 基于六面體微元剖分的高密度電阻率成像法模擬測定軟件(Generated Measurement of Electrical Resistivity Tomography With Block as Elements) | GmertD | V2016 | 2017SR701277 | 30200-7800 | - | 2017-12-18 |
| 3 | 對三維空間非結(jié)構(gòu)點(diǎn)集的四面體自動(dòng)剖分軟件(Tetrahedron Based Reticulation for Unstructed Points in 3D Space) | Reticu3D | V2016 | 2017SR701154 | 30200-0000 | - | 2017-12-18 |
作品著作權(quán)0
暫無作品著作權(quán)
網(wǎng)站備案1

| 序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | - | www.geozhou.com | 蘇ICP備15012437號 | 企業(yè) | 2021-11-04 |
郵箱
電話
公司簡介
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