云嶺光電
商標信息5
專利信息45
| 序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 一種半導體激光器制備方法 | 發(fā)明專利 | CN202110950473.8 | CN113913743B | 2022-07-08 |
| 2 | 邊發(fā)射激光器芯片級老化測試系統(tǒng)以及方法 | 發(fā)明專利 | CN202210095601.X | CN114636915A | 2022-06-17 |
| 3 | 半導體激光器及其制作方法 | 發(fā)明專利 | CN202210315573.8 | CN114421280A | 2022-04-29 |
| 4 | 一種自生成脊型波導的激光器制作方法 | 發(fā)明專利 | CN202111415222.6 | CN114400503A | 2022-04-26 |
| 5 | 一種半導體激光器制備方法 | 發(fā)明專利 | CN202110950473.8 | CN113913743A | 2022-01-11 |
| 6 | 一種高速率半導體激光器及其封裝結(jié)構(gòu)和方法 | 發(fā)明專利 | CN202011358393.5 | CN112510482B | 2021-12-14 |
| 7 | 一種小發(fā)散角半導體激光器及其制備方法 | 發(fā)明專利 | CN202011037170.9 | CN112217093B | 2021-11-30 |
| 8 | 一種掩埋異質(zhì)結(jié)的制備方法 | 發(fā)明專利 | CN202110451693.6 | CN112864807B | 2021-11-05 |
| 9 | 邊發(fā)射半導體激光器芯片測試方法以及系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN202110865398.5 | CN113589146A | 2021-11-02 |
| 10 | 一種半導體激光器 | 發(fā)明專利 | CN202010604971.2 | CN113300213A | 2021-08-24 |
軟件著作權(quán)3
| 序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 測試數(shù)據(jù)分析軟件 | - | V1.19 | 2022SR0458028 | - | 2021-09-15 | 2022-04-12 |
| 2 | 封裝流程管理數(shù)據(jù)庫軟件 | 封裝數(shù)據(jù)庫 | V3.5.13 | 2020SR1241899 | - | 2018-06-11 | 2020-10-23 |
| 3 | PIV測試數(shù)據(jù)處理軟件 | - | V3.7.16 | 2020SR1240865 | - | 2018-05-10 | 2020-10-22 |
作品著作權(quán)0
暫無作品著作權(quán)
網(wǎng)站備案3

| 序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 武漢云嶺光電有限公司 | www.eliteoptronics.com | 鄂ICP備19009957號 | 企業(yè) | 2019-04-22 |
| 2 | 武漢云嶺光電有限公司 | www.eliteoptronics.com | 鄂ICP備19009957號 | 企業(yè) | 2019-04-22 |
| 3 | - | www.eliteoptronics.com | 鄂ICP備19009957號 | 企業(yè) | 2019-04-22 |
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