中拓光電
商標(biāo)信息0
暫無商標(biāo)信息
專利信息13
| 序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 一種正片系統(tǒng) | 實用新型 | CN202220579270.2 | CN216793647U | 2022-06-21 |
| 2 | 龍門結(jié)構(gòu)的Y軸驅(qū)動機(jī)構(gòu) | 發(fā)明專利 | CN202210245410.7 | CN114562653A | 2022-05-31 |
| 3 | 一種可升降的載物臺及用其對外延片進(jìn)行檢測的方法 | 發(fā)明專利 | CN202210144979.4 | CN114324341A | 2022-04-12 |
| 4 | 一種半導(dǎo)體晶片的激光打標(biāo)裝置 | 實用新型 | CN201520678589.0 | CN205271146U | 2016-06-01 |
| 5 | 機(jī)柜 | 外觀專利 | CN201530272580.5 | CN303551005S | 2016-01-13 |
| 6 | 一種半導(dǎo)體晶片的激光打標(biāo)裝置 | 發(fā)明專利 | CN201510556701.8 | CN105171244A | 2015-12-23 |
| 7 | 半導(dǎo)體晶片的自動檢測裝置 | 實用新型 | CN201520555147.7 | CN204885094U | 2015-12-16 |
| 8 | 半導(dǎo)體晶片的自動檢測裝置 | 發(fā)明專利 | CN201510451237.6 | CN105023859A | 2015-11-04 |
| 9 | 半導(dǎo)體晶片的托起裝置 | 實用新型 | CN201520043561.X | CN204361073U | 2015-05-27 |
| 10 | 半導(dǎo)體晶片的高速熒光光譜檢測裝置 | 實用新型 | CN201520048428.3 | CN204359694U | 2015-05-27 |
軟件著作權(quán)8
| 序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 全自動晶片分選系統(tǒng)軟件 | 晶片分選系統(tǒng) | V3.16 | 2019SR1414341 | - | 2017-11-30 | 2019-12-23 |
| 2 | 外延片數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析軟件 | 外延片數(shù)據(jù)分析軟件 | V4.16 | 2019SR1408836 | - | 2016-01-04 | 2019-12-20 |
| 3 | 全自動晶片厚度測試分類系統(tǒng)軟件 | 晶片厚度分類系統(tǒng) | V3.19 | 2019SR1402588 | - | 2019-01-11 | 2019-12-19 |
| 4 | CTOE 厚度自動控制系統(tǒng) | CTOE AGC | V1.0 | 2016SR353276 | - | 2015-09-11 | 2016-12-05 |
| 5 | 全自動晶片激光打標(biāo)系統(tǒng) | 晶片激光打標(biāo)系統(tǒng) | V3.16 | 2016SR271318 | - | - | 2016-09-22 |
| 6 | 3D紋理掃描數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) | 3DFilter | V2.0 | 2015SR088604 | - | 2012-05-18 | 2015-05-22 |
| 7 | 3D紋理掃描系統(tǒng) | 3DScan | V3.1 | 2015SR088141 | - | 2012-05-18 | 2015-05-22 |
| 8 | PL譜全自動在線檢測系統(tǒng) | PL譜檢測系統(tǒng) | V3.14 | 2015SR016787 | - | 2012-05-18 | 2015-01-28 |
作品著作權(quán)0
暫無作品著作權(quán)
網(wǎng)站備案1

| 序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | - | www.bjztgd.com | 京ICP備12019144號 | 企業(yè) | 2020-06-23 |
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