一種芯片測(cè)試裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201920584377.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN210465602U | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-05-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN210465602U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-05-05 |
| 分類號(hào) | G01R31/28;G01R1/04;G01R19/25;G05F1/46;G05B19/042 | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 郭觀水;劉志赟 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 深圳市致宸信息科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市華盛智薈知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 深圳市致宸信息科技有限公司 |
| 地址 | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科技南八路2號(hào)豪威科技大廈2101室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種芯片測(cè)試裝置，該芯片測(cè)試裝置包括測(cè)試基板和測(cè)試座，所述測(cè)試基板包括供電模塊、電壓檢測(cè)模塊和電壓管理模塊，所述測(cè)試座上可放置待測(cè)芯片；所述芯片測(cè)試裝置中的供電模塊能為所述待測(cè)芯片提供各種類型、大小的電壓，使所述待測(cè)芯片能在所述芯片測(cè)試裝置中進(jìn)行多方位測(cè)試；另外，在待測(cè)芯片的測(cè)試過(guò)程，所述電壓檢測(cè)模塊能檢測(cè)所述待測(cè)芯片兩端的實(shí)時(shí)電壓，所述供電模塊能基于所述實(shí)時(shí)電壓和所述電壓管理模塊對(duì)待測(cè)芯片兩端的供電電壓進(jìn)行實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)，以使所述待測(cè)芯片兩端的電壓保持恒定，保證了待測(cè)芯片在所述芯片測(cè)試裝置的測(cè)試效果。 |
