一種真空型太赫茲干燥探頭及檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910723729.4 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112345484A 公開(公告)日 2021-02-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN112345484A 申請(qǐng)公布日 2021-02-09
分類號(hào) G01N21/3581(2014.01)I; 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 王丹 申請(qǐng)(專利權(quán))人 華太極光光電技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 代理人 尹麗云
地址 200433上海市楊浦區(qū)軍工路1436號(hào)64幢一層A137室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出一種真空型太赫茲干燥探頭,包括:腔體、抽真空模塊、太赫茲波發(fā)射模塊和太赫茲波接收模塊,所述腔體內(nèi)設(shè)置有用于調(diào)節(jié)太赫茲波傳輸方向的調(diào)節(jié)裝置和用于放置被測(cè)物體的置物臺(tái);所述抽真空模塊與所述腔體對(duì)接,對(duì)所述腔體進(jìn)行抽真空;所述太赫茲波發(fā)射模塊和所述太赫茲波接收模塊設(shè)置于所述腔體外部;所述調(diào)節(jié)裝置接收所述太赫茲波發(fā)射模塊發(fā)出的太赫茲波,并將所述太赫茲波聚焦到被測(cè)物體表面;所述調(diào)節(jié)裝置將穿過所述被測(cè)物體表面的太赫茲波發(fā)送給所述太赫茲波接收模塊,對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行檢測(cè);本發(fā)明可有效提高檢測(cè)準(zhǔn)確性,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作便捷。??