集成電路版圖熱點(diǎn)檢測網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練及熱點(diǎn)檢測方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201810218171.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN108446486A | 公開(公告)日 | 2018-08-24 |
| 申請公布號 | CN108446486A | 申請公布日 | 2018-08-24 |
| 分類號 | G06F17/50 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 張遠(yuǎn)航;趙西金;胡濱;張春;鄧仰東;趙強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人 | 珠海市睿晶聚源科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市鼎言知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 曾昭毅;鄭海威 |
| 地址 | 519000 廣東省珠海市橫琴新區(qū)寶華路6號105室-39935(集中辦公區(qū)) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種集成電路版圖熱點(diǎn)檢測網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練及熱點(diǎn)檢測方法包括如下步驟:獲取模型訓(xùn)練數(shù)據(jù)集;依據(jù)所述模型訓(xùn)練數(shù)據(jù)集的熱點(diǎn)版圖與非熱點(diǎn)版圖進(jìn)行特征提取訓(xùn)練獲得特征提取卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);依據(jù)所述特征模型進(jìn)行候選框提取訓(xùn)練獲得候選框提取卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);依據(jù)所述特征模型及所述候選框模型進(jìn)行熱點(diǎn)版圖提取訓(xùn)練獲得熱點(diǎn)范圍提取卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);獲取待檢測的集成電路版圖,依據(jù)所述特征提取卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)獲得所述待檢測的集成電路版圖的特征圖,依據(jù)所述候選框提取卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)獲得所述待檢測的集成電路版圖的候選框模型,依據(jù)所述熱點(diǎn)范圍提取卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)獲得所述待檢測的集成電路版圖的熱點(diǎn)檢測結(jié)果。 |





