一種用于轉(zhuǎn)子線圈外徑的高點(diǎn)測量儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121343621.1 申請日 -
公開（公告）號 CN215572546U 公開（公告）日 2022-01-18
申請公布號 CN215572546U 申請公布日 2022-01-18
分類號 G01B5/00（2006.01）I;G01B5/08（2006.01）I;G01B5/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙巖龍 申請（專利權(quán)）人 陜西拓普達(dá)精密設(shè)備有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 代理人 石淑珍
地址 710016陜西省西安市未央?yún)^(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)明光路166號凱瑞D座5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于轉(zhuǎn)子線圈外徑的高點(diǎn)測量儀，所述高點(diǎn)測量儀包括操作平臺(tái)，在所述操作平臺(tái)上水平對應(yīng)且間距設(shè)有將轉(zhuǎn)子線圈的轉(zhuǎn)軸兩端分別支撐的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)和滑動(dòng)機(jī)構(gòu)，在所述調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)和滑動(dòng)機(jī)構(gòu)一側(cè)的所述操作平臺(tái)上還設(shè)有沿轉(zhuǎn)軸支撐狀態(tài)的長度方向滑動(dòng)設(shè)置的立式量表。該高點(diǎn)測量儀可以對不同直徑的轉(zhuǎn)子線圈的表面平整度進(jìn)行有效且精準(zhǔn)的測量，也可以滿足對不同直徑的轉(zhuǎn)子線圈的測量要求，尤其適用于轉(zhuǎn)子動(dòng)平衡加重后高點(diǎn)的檢測與修正。該裝置支架鑲有耐磨性極好的寶石材料，在轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)軸及測量過程中不易磨損，可有效降低因支架磨損帶來的測量誤差，以保證高點(diǎn)測量儀整體具有較高的測量精度。