一種測試組件及裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202022366287.3 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN214375114U | 公開(公告)日 | 2021-10-08 |
| 申請公布號 | CN214375114U | 申請公布日 | 2021-10-08 |
| 分類號 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 陸平 | 申請(專利權)人 | 深南電路股份有限公司 |
| 代理機構 | 深圳市威世博知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 鐘子敏 |
| 地址 | 518117廣東省深圳市龍崗區(qū)坪地街道鹽龍大道1639號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請公開了一種測試組件及裝置,其中,該測試組件包括矩陣開關和測試座,所述矩陣開關包括依序連接的總線端口、多路開關和擴展端口,所述總線端口用于連接測試儀器,所述擴展端口的數(shù)量大于所述總線端口的數(shù)量;所述測試座具有用于與待測器件的測試引腳對應連接的電極,以及與所述電極對應連接的測試端口,所述測試端口與所述擴展端口一一對應連接;所述測試儀器能夠通過所述矩陣開關切換連接到所述待測器件的不同所述測試引腳。本申請能大幅提高器件電性能測設的測試效率、測試精度和測試一致性。 |





