基于光彈性的缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110170546.1 申請日 -
公開（公告）號 CN112802003A 公開（公告）日 2021-05-14
申請公布號 CN112802003A 申請公布日 2021-05-14
分類號 G06T7/00;G06K9/62;G01L1/24 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 何良雨;劉彤;崔健 申請（專利權(quán)）人 鋒睿領(lǐng)創(chuàng)（珠海）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳眾鼎專利商標(biāo)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 姚章國
地址 519000 廣東省珠海市橫琴新區(qū)環(huán)島東路1889號創(chuàng)意谷18棟110室-534（集中辦公區(qū)）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于光彈性的缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備和存儲介質(zhì)，所述方法包括：采用初始偏振光入射待檢測材料，并檢測初始偏振光經(jīng)過待檢測材料雙折射產(chǎn)生的橢圓偏振光的偏振信息，基于偏振信息確定光彈性應(yīng)力值，并根據(jù)光彈性應(yīng)力值生成應(yīng)力分布圖像，通過深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)，對應(yīng)力分布圖像進(jìn)行特征提取識別，得到缺陷特征信息，采用本發(fā)明可以提高缺陷檢測的靈敏度和準(zhǔn)確率。