一種集成芯片PIN檢測(cè)與不良品分類設(shè)備及檢測(cè)分類方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111001882.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113857080A 公開(kāi)（公告）日 2021-12-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN113857080A 申請(qǐng)公布日 2021-12-31
分類號(hào) B07C5/344（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 豆宏春;劉軍;汪洪偉;王強(qiáng) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 四川辰鴻電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都聚蓉眾享知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 孟凡娜
地址 615700四川省涼山彝族自治州鹽源縣果場(chǎng)（涼山州綠色家園安康醫(yī)院內(nèi)）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)一種集成芯片PIN檢測(cè)與不良品分類設(shè)備，包括傾斜設(shè)置的機(jī)架，所述機(jī)架上表面從位置較高的一端到位置較低的一端依次設(shè)有相互連通的下料組件、耐壓測(cè)試組件、電性測(cè)試組件和循環(huán)組件，所述耐壓測(cè)試組件側(cè)面設(shè)有與其連通的耐壓不良品收料組件，所述循環(huán)組件位置較低的一端設(shè)有與其內(nèi)部連通的分料組件，所述分料組件包括良品出料組件和數(shù)個(gè)不良品出料組件。本發(fā)明可對(duì)電性測(cè)試之后的集成芯片進(jìn)行分類，同時(shí)在可循環(huán)治具進(jìn)行循環(huán)。