一種模擬電路參數(shù)校準的調(diào)試系統(tǒng)及方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201910448011.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN110208687A | 公開(公告)日 | 2019-09-06 |
| 申請公布號 | CN110208687A | 申請公布日 | 2019-09-06 |
| 分類號 | G01R31/317(2006.01)I; G01R31/30(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 周海峰; 王志平; 秦嶺 | 申請(專利權(quán))人 | 寧波芯路通訊科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 上海申新律師事務所 | 代理人 | 俞滌炯 |
| 地址 | 315000 浙江省寧波市余姚市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)城東新區(qū)冶山路 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及模擬電路的調(diào)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種模擬電路參數(shù)校準的調(diào)試系統(tǒng),包括:芯片復位控制線用于復位芯片并進入自動校準進程;芯片輸出基準電壓線用于輸出芯片當前的實際基準電壓;標準電壓單元用于提供一預設基準電壓作為調(diào)試的參考值;電壓比較單元的輸出端通過一電壓反饋線連接芯片的第二輸入端,電壓反饋線用于向芯片發(fā)送用于表示當前的實際基準電壓是否達到預設基準電壓的反饋信號;指示單元,用于指示自動校準進程是否完成。有益效果:減少了樣片調(diào)試階段的測試設備,樣片階段和量產(chǎn)階段的調(diào)試都是采用數(shù)據(jù)并行操作的方式進行,時鐘速度和數(shù)據(jù)操作的位寬都要高出許多倍,有效地提高了校準的效率,降低芯片的測試成本。 |





