雷達高度的測量方法和雷達高度的測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210169251.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114594471A 公開（公告）日 2022-06-07
申請公布號 CN114594471A 申請公布日 2022-06-07
分類號 G01S13/88;G01S7/40 分類 測量；測試;
發(fā)明人 洪天晟;李春來;蘇彥;張宗煜;劉晨迪;王瑞剛;戴舜;劉書寧;杜維 申請（專利權）人 中國科學院國家天文臺
代理機構 中科專利商標代理有限責任公司 代理人 樊曉
地址 100012 北京市朝陽區(qū)大屯路甲20號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供了一種雷達高度的測量方法和雷達高度的測量裝置。該方法包括：對從雷達獲取的探測數(shù)據(jù)進行電離層校正，得到校正系數(shù)和與校正系數(shù)對應的目標脈壓系數(shù)，其中，探測數(shù)據(jù)是雷達對星體表面進行探測所獲得的；根據(jù)目標脈壓系數(shù)，對探測數(shù)據(jù)進行脈沖壓縮，得到壓縮數(shù)據(jù)，其中，壓縮數(shù)據(jù)的分辨率滿足預設分辨率要求；基于預設挑選規(guī)則，從壓縮數(shù)據(jù)中找出壓縮數(shù)據(jù)中目標回波位置；根據(jù)目標回波位置對應的時延、探測數(shù)據(jù)的采樣率和雷達接收探測數(shù)據(jù)的開窗高度，確定雷達的高度信息。