基于關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)選擇和蟻群優(yōu)化算法的大規(guī)模集成電路小時延故障測試通路選擇方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410642109.5 申請日 -
公開（公告）號 CN104331569B 公開（公告）日 2017-05-24
申請公布號 CN104331569B 申請公布日 2017-05-24
分類號 G06F17/50(2006.01)I;G06N3/00(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 俞洋;彭宇;陳修遠(yuǎn);彭睿 申請（專利權(quán)）人 哈爾濱工業(yè)大學(xué)高新技術(shù)開發(fā)總公司
代理機(jī)構(gòu) 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 哈爾濱工業(yè)大學(xué);哈爾濱工業(yè)大學(xué)高新技術(shù)開發(fā)總公司
地址 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)西大直街92號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 基于關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)選擇和蟻群優(yōu)化算法的大規(guī)模集成電路小時延故障測試通路選擇方法，涉及一種大規(guī)模集成電路的小時延故障測試通路選擇方法。它是為了解決現(xiàn)有基于貪婪算法對小時延缺陷的測試通路選擇方法時間復(fù)雜度和空間復(fù)雜度過高的問題。本發(fā)明所述的基于關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)選擇和蟻群優(yōu)化算法的大規(guī)模集成電路小時延故障測試通路選擇方法，通過使用關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)選擇來優(yōu)化蟻群優(yōu)化算法的搜索時間，進(jìn)而快速選擇出小時延缺陷測試通路，使搜索時間減少為原時間的20％至25％。不僅降低了時間復(fù)雜度，也降低了空間復(fù)雜度。適用于在大規(guī)模集成電路小時延故障測試通路的選擇。