一種基于單像素特征聚類建立集群的液晶屏缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111204952.1 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN114022415B 公開（公告）日 2022-06-28
申請公布號(hào) CN114022415B 申請公布日 2022-06-28
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06V10/40（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06T7/90（2017.01）I;G06V10/762（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 漆長松;李勇 申請（專利權(quán)）人 成都博視廣達(dá)科技有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 成都睿道專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 610000四川省成都市高新區(qū)盛和一路88號(hào)1棟2單元17層1713號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于單像素特征聚類建立集群的液晶屏缺陷檢測方法，首先，獲取液晶屏RGB三通道圖像，還包括S1.獲取所述圖像各像素點(diǎn)的灰度值及r、g、b通道值，將圖像轉(zhuǎn)化為灰度圖；S2.對(duì)灰度圖中的每個(gè)像素點(diǎn)進(jìn)行遍歷計(jì)算，通過多模態(tài)與多尺度的特征提取核，生成每個(gè)所述像素點(diǎn)的特征向量；S3.根據(jù)所述特征向量聚類的結(jié)果以及聚類后集群中的像素點(diǎn)的坐標(biāo)分布情況以判斷液晶屏是否存在缺陷；采用本方法不需要對(duì)缺陷樣本進(jìn)行收集，在算法落地應(yīng)用中更具備開展實(shí)施性，且由于參數(shù)的規(guī)模小，有效的提高缺陷檢測算法的效率；另與傳統(tǒng)的局部像素值等算法比較，本方法所提供的缺陷檢測更具備全面性。