一種應(yīng)用于芯片低壓過程的復(fù)位防錯(cuò)電路與方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110670737.4 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113392619A | 公開(公告)日 | 2021-09-14 |
| 申請公布號 | CN113392619A | 申請公布日 | 2021-09-14 |
| 分類號 | G06F30/398(2020.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 徐望成;林建安;袁玄玄 | 申請(專利權(quán))人 | 上海磐啟微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海旭誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 鄭立 |
| 地址 | 201210上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)盛夏路666號、銀冬路122號4幢3層01-02、04-05 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于芯片低壓過程的復(fù)位防錯(cuò)電路與方法,涉及電子電路技術(shù)領(lǐng)域,包括:步驟1、通過大量測試采集芯片復(fù)位特征數(shù)據(jù);步驟2、根據(jù)所述復(fù)位特征數(shù)據(jù)得到復(fù)位特征曲線;步驟3、建立預(yù)測的數(shù)學(xué)模型;步驟4、元器件參數(shù)匹配計(jì)算。本發(fā)明在芯片電源異常時(shí)使芯片處于復(fù)位狀態(tài),在異常消失時(shí)自動(dòng)釋放復(fù)位,使芯片可以自行恢復(fù)正常,從而減少外部環(huán)境對芯片的影響。 |





