一種具有超結(jié)結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體器件及其制作方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201810150564.1 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN108376713B | 公開(公告)日 | 2021-01-15 |
| 申請公布號 | CN108376713B | 申請公布日 | 2021-01-15 |
| 分類號 | H01L29/786;H01L29/06;H01L21/336 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 王振海 | 申請(專利權(quán))人 | 匯佳網(wǎng)(天津)科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人 | 王振海;匯佳網(wǎng)(天津)科技有限公司 |
| 地址 | 300110 天津市南開區(qū)衛(wèi)津路與萬德莊大街交口西南側(cè)新都大廈1-1-505-1 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種具有超結(jié)結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體器件及其制作方法,涉及半導(dǎo)體芯片技術(shù)領(lǐng)域,包括:N型襯底、N+區(qū)、P?體區(qū)、PN交替超結(jié)區(qū)、N+源區(qū)、柵極氧化層、多晶硅柵極、介質(zhì)層隔離、器件源極金屬和器件漏極金屬。PN交替超結(jié)區(qū)由P+層與N+層橫向間隔交替排列,N+區(qū)的中央?yún)^(qū)內(nèi)部橫向設(shè)置有由超結(jié)P型柱組成的超結(jié)P型柱陣列組。該技術(shù)方案緩解了現(xiàn)有技術(shù)存在的導(dǎo)通電阻大、飽和電流低的技術(shù)問題,有效保證了半導(dǎo)體器件的耐壓性能,提高了半導(dǎo)體器件的飽和電流,減小了器件的導(dǎo)通電阻,充分發(fā)揮了超結(jié)結(jié)構(gòu)的優(yōu)勢,有效利用器件面積,降低了器件的生產(chǎn)成本,改善半導(dǎo)體器件的導(dǎo)通性能。 |





