太赫茲時(shí)空分辨成像系統(tǒng)、成像方法及其應(yīng)用

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201310013686.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN103091255B 公開(kāi)（公告）日 2016-03-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN103091255B 申請(qǐng)公布日 2016-03-30
分類號(hào) G01N21/17(2006.01)I;G01N21/21(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王新柯;張巖 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京遠(yuǎn)大恒通科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京億騰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 首都師范大學(xué);北京遠(yuǎn)大恒通科技發(fā)展有限公司
地址 100048 北京市海淀區(qū)西三環(huán)北路105號(hào)首都師范大學(xué)物理系
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種太赫茲時(shí)空分辨成像系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括：樣品放置架；探測(cè)晶體，位于樣品放置架的出射面一側(cè)；泵浦光生成裝置，用于生成泵浦光以照射測(cè)試樣品；太赫茲光生成裝置，用于生成太赫茲光以照射測(cè)試樣品，獲取測(cè)試樣品的信息后照射探測(cè)晶體，并調(diào)制探測(cè)晶體的折射率橢球；探測(cè)光生成裝置，用于生成探測(cè)光以照射探測(cè)晶體，探測(cè)其折射率橢球，間接獲取測(cè)試樣品的信息；和成像設(shè)備，位于探測(cè)光經(jīng)過(guò)探測(cè)晶體之后的光路中，用于采集測(cè)試樣品的太赫茲圖像。本發(fā)明將太赫茲焦平面成像技術(shù)引入太赫茲時(shí)間分辨光譜測(cè)量系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試樣品光致特性的時(shí)空分辨成像測(cè)量，獲取四維光譜信息，實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試樣品光致特性的時(shí)空演變過(guò)程的全面準(zhǔn)確的觀測(cè)。