一種帶有自學(xué)習(xí)功能的漫反射式物體檢測(cè)方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911094828.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111123385A 公開(kāi)(公告)日 2020-05-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN111123385A 申請(qǐng)公布日 2020-05-08
分類號(hào) G01V8/10;G06N20/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 徐建欣;劉文生 申請(qǐng)(專利權(quán))人 廣州靈德自動(dòng)化科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 代理人 廣州晨日電子技術(shù)有限公司
地址 510000 廣東省廣州市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)連云路6號(hào)401房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種帶有自學(xué)習(xí)功能的漫反射式物體檢測(cè)方法,包括如下步驟:接收自學(xué)習(xí)控制指令;根據(jù)接收到的自學(xué)習(xí)控制指令逐個(gè)測(cè)量在開(kāi)啟或關(guān)閉發(fā)射管兩種狀態(tài)下各個(gè)接收模塊的輸出電壓;根據(jù)得到的各接收模塊在所述兩種不同狀態(tài)下的輸出電壓計(jì)算出電壓差值;根據(jù)存儲(chǔ)的各接收模塊的電壓差值來(lái)判斷是否有檢測(cè)到物體。本發(fā)明提供了一種電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。本發(fā)明的帶有自學(xué)習(xí)功能的漫反射式物體檢測(cè)方法通過(guò)預(yù)先學(xué)習(xí)處于對(duì)應(yīng)環(huán)境中的各接收模塊的電壓差值,并根據(jù)實(shí)際環(huán)境情況對(duì)不同的接收模塊設(shè)置不同的判斷條件,進(jìn)而避免側(cè)面立壁反射、固定障礙物以及周期性環(huán)境反射率變化影響整體檢測(cè)性能。