顯示面板殘影檢測方法以及檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010276323.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN111341233B 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號(hào) CN111341233B 申請公布日 2022-03-22
分類號(hào) G09G3/00（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I 分類 教育；密碼術(shù)；顯示；廣告；印鑒;
發(fā)明人 黃志娟;王志祥 申請（專利權(quán)）人 昆山國顯光電有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 娜拉
地址 215300江蘇省蘇州市昆山市開發(fā)區(qū)龍騰路1號(hào)4幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種顯示面板殘影檢測方法以及檢測裝置，顯示面板殘影檢測方法包括：控制待測顯示面板顯示棋盤格畫面，棋盤格畫面包括矩陣排列的多個(gè)純色子畫面，相鄰兩個(gè)純色子畫面的灰階分別為第一灰階和第二灰階；在棋盤格畫面顯示第一預(yù)定時(shí)長后，控制待測顯示面板顯示預(yù)定灰階的檢測畫面；控制參照顯示面板顯示標(biāo)定畫面，標(biāo)定畫面包括矩陣排列且相互交替的多個(gè)第一矩陣圖片和多個(gè)第二矩陣圖片，第一矩陣圖片的灰階與預(yù)定灰階相同，第二矩陣圖片的灰階包括與預(yù)定灰階相同的第三灰階和與預(yù)定灰階不同的第四灰階；比對(duì)檢測畫面和標(biāo)定畫面，以得到待測顯示面板的殘影程度。本發(fā)明提供的顯示面板殘影檢測方法能夠提高對(duì)顯示面板殘影檢測的準(zhǔn)確性。