一種反電勢(shì)檢測(cè)結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202022642101.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN213423417U 公開（公告）日 2021-06-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN213423417U 申請(qǐng)公布日 2021-06-11
分類號(hào) G01R31/34（2006.01）I;G01R19/25（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 周莊苗;金玲飛 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州微秦科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州天昊專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 何碧珩
地址 310000浙江省杭州市濱江區(qū)六和路368號(hào)一幢（北）三樓B3231室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開一種反電勢(shì)的檢測(cè)方法，用來檢測(cè)電機(jī)三相線的反電動(dòng)勢(shì)，所述反電勢(shì)檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括分壓電路、RC濾波電路和鉗位電路,所述分壓電路分別連接在電機(jī)的R、G、B三相線，所述RC濾波電路連接在所述分壓電路的輸出端，所述鉗位電路的連接至所述濾波電路的輸出端和電源VCC之間,所述反電勢(shì)結(jié)構(gòu)還包括采樣芯片MCU，所述采樣芯片MCU連接至所述RC濾波電路的輸出端。通過使用較少的元器件及MCU管腳，成本降低；同時(shí)減少ADC采樣口數(shù)量，避免因采樣排列導(dǎo)致的采樣延遲，使采樣更加精準(zhǔn)可控，減少實(shí)驗(yàn)誤差。