PoGoPIN使用壽命檢測設(shè)備
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201620844625.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN206223880U | 公開(公告)日 | 2017-06-06 |
| 申請公布號 | CN206223880U | 申請公布日 | 2017-06-06 |
| 分類號 | G01R31/00(2006.01)I;G01M13/00(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I;B07C5/344(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 呂克振;蔡彬彬 | 申請(專利權(quán))人 | 上海瀾博半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海唯源專利代理有限公司 | 代理人 | 曾耀先 |
| 地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)郭守敬路351號2號樓657-20室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及PoGoPIN檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種對檢測PoGoPIN的使用壽命的檢測設(shè)備。為實(shí)現(xiàn)對PogoPIN的使用壽命進(jìn)行檢測,本實(shí)用新型提出一種PogoPIN使用壽命檢測設(shè)備,其包括PogoPIN安裝基臺(tái)、測試手臂、驅(qū)動(dòng)電機(jī)、電阻測試儀、處理控制裝置和顯示裝置,測試手臂的測試端位于PogoPIN安裝基臺(tái)的上方并在驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)下進(jìn)行上下重復(fù)運(yùn)動(dòng),對位于PogoPIN安裝基臺(tái)上的待檢測PogoPIN進(jìn)行下壓測試;在下壓測試過程中,電阻測試儀對待檢測PogoPIN的電阻進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測并將檢測到的電阻值傳輸?shù)教幚砜刂蒲b置中;處理控制裝置對接收到的電阻值進(jìn)行處理得出待檢測PogoPIN的使用壽命并傳輸?shù)斤@示裝置中進(jìn)行顯示。該P(yáng)ogoPIN使用壽命檢測設(shè)備對PogoPIN的使用壽命進(jìn)行檢測,直觀地得出待檢測PogoPIN的使用壽命,檢測簡單方便。 |





