一種單位質(zhì)量粉末中顆粒數(shù)的測定方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010401443.7 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN111982757A | 公開（公告）日 | 2020-11-24 |
| 申請公布號 | CN111982757A | 申請公布日 | 2020-11-24 |
| 分類號 | G01N15/00(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 鄢曉君;劉偉;李樂 | 申請（專利權(quán)）人 | 北京華龕生物科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京紀(jì)凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 北京華龕生物科技有限公司;天津華龕生物科技有限公司 |
| 地址 | 100195北京市海淀區(qū)杏石口路益園文化創(chuàng)意產(chǎn)業(yè)基地B區(qū)B1-208 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種單位質(zhì)量粉末中顆粒數(shù)的測定方法。它包括如下步驟：1)將粉末鋪滿平面承載物體的表面形成單層，并稱量獲得該單層的所述粉末質(zhì)量；2)采用顯微成像技術(shù)對步驟1)中鋪有所述粉末的平面承載物體的選定面積進(jìn)行拍攝，得到圖片，然后對所述圖片中的顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)，得到所述選定面積上的顆粒數(shù)量，且通過所述選定面積與所述平面承載物體總面積的比例關(guān)系換算，即得到所述平面承載物體總面積上的所述粉末的總顆粒數(shù)；3)根據(jù)步驟1)中所述單層的所述粉末質(zhì)量除以步驟2)中得到的所述粉末的總顆粒數(shù)，即得到每單位質(zhì)量粉末中顆粒數(shù)。本發(fā)明方法能有效解決了粉末極輕極小，難以稱重的難題，并且測定的結(jié)果準(zhǔn)確，效率高。?? |
