一種實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)器訪問的方法、裝置以及存儲(chǔ)器
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110572245.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN113176861A | 公開(公告)日 | 2021-07-27 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113176861A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-27 |
| 分類號(hào) | G06F3/06(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 張永 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 北京物芯科技有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京華夏正合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 韓登營(yíng) |
| 地址 | 100086北京市海淀區(qū)知春路1號(hào)1幢15層1514室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)器訪問的方法、裝置以及存儲(chǔ)器,所述方法,包括:在所述存儲(chǔ)器模型中封裝讀寫函數(shù);對(duì)所述存儲(chǔ)器及所述讀寫函數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證;通過所述讀寫函數(shù)對(duì)所述存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)單元進(jìn)行訪問。由此,可以通過封裝在存儲(chǔ)器中的讀寫函數(shù)直接對(duì)存儲(chǔ)單元進(jìn)行訪問,從而在對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí),可以直接通過讀寫函數(shù)從存儲(chǔ)器中獲取配置,而不需要消耗仿真時(shí)間,進(jìn)而提高了仿真效率。 |





