紅外圖像去除橫豎紋的方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210305485.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN114627026A 公開(kāi)（公告）日 2022-06-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN114627026A 申請(qǐng)公布日 2022-06-14
分類號(hào) G06T5/00（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 黃晟;付航;黃超 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 武漢高德智感科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳峰誠(chéng)志合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 430205湖北省武漢市東湖新技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)高新三路29號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)?zhí)峁┝思t外圖像去除橫豎紋的方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，包括：對(duì)原始去橫豎紋算法進(jìn)行算法優(yōu)化，獲取優(yōu)化后去橫豎紋算法；通過(guò)ARM架構(gòu)中的NEON運(yùn)算單元根據(jù)所述優(yōu)化后去橫豎紋算法對(duì)待處理紅外圖像進(jìn)行去除橫豎紋計(jì)算。不僅通過(guò)優(yōu)化原始去橫豎紋算法，降低了原始去橫豎紋算法中較影響計(jì)算速度的判斷計(jì)算，提高了運(yùn)算效率，而且通過(guò)ARM架構(gòu)中的NEON運(yùn)算單元執(zhí)行去橫豎紋算法，取代了原來(lái)需要的FPGA計(jì)算模塊，降低了設(shè)備的生產(chǎn)成本。