一種基于圖像的微特征檢測(cè)算法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011412891.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112634205A 公開（公告）日 2021-04-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN112634205A 申請(qǐng)公布日 2021-04-09
分類號(hào) G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 孫長(zhǎng)進(jìn);劉立莊;陳萍;孔彩鳳 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江蘇鼎集智能科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市創(chuàng)富知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 曾敬
地址 225000 江蘇省揚(yáng)州市江都區(qū)文昌東路88號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于圖像的微特征檢測(cè)算法，具體涉及檢測(cè)算法技術(shù)領(lǐng)域，其技術(shù)方案是：S1，輸入為一張圖片，經(jīng)過(guò)由深度可分離式卷積組成的特征提取網(wǎng)絡(luò)后得到三層特征金字塔，每一層特征圖分別再通過(guò)一層卷積層后得到輸入圖片的預(yù)測(cè)結(jié)果，即每一張圖片位置框的偏移量，類別結(jié)果和置信度；S2，通過(guò)位置偏移量可以得到每一格預(yù)測(cè)框的實(shí)際位置；通過(guò)邏輯回歸獲得類別信息；S3，置信度是預(yù)測(cè)框中存在對(duì)象的概率和真實(shí)框與預(yù)測(cè)框的交并比之積，本發(fā)明的有益效果是：無(wú)論是遠(yuǎn)距離觀測(cè)的裂縫、鉚釘處的細(xì)小裂縫，還是在光線昏暗并且背景較為雜亂的飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部葉片的小裂縫，YOLOv3?Lite都可以檢測(cè)到。