用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110235766.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113160128A 公開（公告）日 2021-07-23
申請公布號 CN113160128A 申請公布日 2021-07-23
分類號 G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 鄭飛;林貴成;閆鋒;李林林 申請（專利權）人 合肥圖迅電子科技有限公司
代理機構 北京清亦華知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 戴冬瑾
地址 230088 安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號創(chuàng)新產業(yè)園一期C4棟5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于LED的缺陷檢測方法以及存儲介質，用于LED的缺陷檢測方法包括以下步驟：以深度卷積殘差網絡和特征金字塔網絡作為特征提取器構建RetinaNet網絡；構建LED訓練圖像集，并對LED訓練圖像集中的各LED訓練圖像進行缺陷標注，得到對應的缺陷目標信息；利用LED訓練圖像集中的各LED訓練圖像及其對應的缺陷目標信息，訓練RetinaNet網絡；利用訓練好的RetinaNet網絡，對獲取的膠后LED圖像進行缺陷檢測。由此，該用于LED的缺陷檢測方法，可以實現(xiàn)根據膠后LED產品的圖像對膠后LED產品上的缺陷進行檢測。