不屏蔽信號(hào)測(cè)試儀

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202023268360.X 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN214703803U 公開(公告)日 2021-11-12
申請(qǐng)公布號(hào) CN214703803U 申請(qǐng)公布日 2021-11-12
分類號(hào) G01R31/00(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 竇高麗 申請(qǐng)(專利權(quán))人 蘇州今藍(lán)納米科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 代理人 姚姣陽(yáng)
地址 215028江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)唯亭鎮(zhèn)浦田路82號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型的不屏蔽信號(hào)測(cè)試儀,包括測(cè)試儀箱體、所述測(cè)試儀箱體上底面設(shè)有開口使所述測(cè)試儀箱體中心形成用于放置信號(hào)發(fā)射器的中空內(nèi)腔。不屏蔽信號(hào)測(cè)試儀可用于檢測(cè)太陽(yáng)膜是否屏蔽信號(hào),此儀器能快速直觀的檢測(cè)太陽(yáng)膜是否屏蔽信號(hào),且測(cè)試儀幾乎完全可以做到不屏蔽內(nèi)部信號(hào)發(fā)射器所發(fā)射出的信號(hào),也可用于檢測(cè)其他功能膜是否屏蔽信號(hào)。