測距裝置以及測距方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110176362.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113985425A 公開（公告）日 2022-01-28
申請公布號 CN113985425A 申請公布日 2022-01-28
分類號 G01S17/10（2020.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 印秉宏;王佳祥 申請（專利權）人 廣州印芯半導體技術有限公司
代理機構 北京同立鈞成知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 宋興;臧建明
地址 510710廣東省廣州市黃埔區(qū)科學大道18號A棟11樓1103單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種測距裝置以及測距方法。測距裝置包括發(fā)光源、圖像傳感器以及處理器。發(fā)光源在不同時間投射多個投影圖案至待測物的表面。圖像傳感器同步于所述多個投影圖案的投射時間來感測待測物的表面，以取得分別對應于所述多個投影圖案的多個感測圖像。處理器分析所述多個感測圖像，以決定待測物的深度信息。處理器執(zhí)行三角函數(shù)計算來取得深度信息。