緊縮場天線測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110343262.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112834833A 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN112834833A 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01R29/10 分類 測量；測試;
發(fā)明人 卜景鵬;東君偉;馬向華;梁有寧 申請（專利權(quán)）人 中山香山微波科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳瑞天謹(jǐn)誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王牌
地址 528437 廣東省中山市火炬開發(fā)區(qū)祥興路6號數(shù)貿(mào)大廈南冀4層412卡
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種緊縮場天線測試系統(tǒng)，包括微波暗室，以及均設(shè)于所述微波暗室內(nèi)的第一機(jī)械手、第二機(jī)械手、反射鏡和饋源，所述反射鏡設(shè)于所述第一機(jī)械手上，所述饋源設(shè)于所述第二機(jī)械手上并朝向所述反射鏡設(shè)置，所述反射鏡用于將所述饋源發(fā)出的出射波聚焦成平面波并將平面波反射至待測件處形成靜區(qū)，所述第一機(jī)械手可帶動所述反射鏡移動，所述第二機(jī)械手可根據(jù)所述反射鏡的移動位置帶動所述饋源移動以實(shí)現(xiàn)平移所述靜區(qū)。本發(fā)明提供的緊縮場天線測試系統(tǒng)中，通過第一、第二機(jī)械手分別帶動反射鏡和饋源移動，并結(jié)合反射鏡和饋源的實(shí)時(shí)匹配對準(zhǔn)，可實(shí)現(xiàn)靜區(qū)的平移，從而構(gòu)成多個(gè)能夠相互拼接的靜區(qū)，以此成倍增大靜區(qū)空間，提升測試性能。