閃存轉(zhuǎn)換層仿真測試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110812619.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113342697A 公開（公告）日 2021-09-03
申請公布號 CN113342697A 申請公布日 2021-09-03
分類號 G06F11/36（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 沈文弢;魏柯 申請（專利權(quán)）人 英韌科技（上海）有限公司
代理機構(gòu) 北京林達劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 劉新宇
地址 201210上海市自由貿(mào)易試驗區(qū)盛夏路500弄1號2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及一種閃存轉(zhuǎn)換層仿真測試系統(tǒng)及方法，所述系統(tǒng)包括網(wǎng)絡塊設備、虛擬化硬件加速器、閃存轉(zhuǎn)換層模塊及基于所述網(wǎng)絡塊設備的虛擬化閃存，網(wǎng)絡塊設備，用于接收并轉(zhuǎn)發(fā)測試信息，測試信息包括讀指令和/或?qū)懼噶罴按龑懭霐?shù)據(jù)；虛擬化硬件加速器，用于分配測試信息到虛擬化硬件加速器的各個線程，并對所述閃存轉(zhuǎn)換層模塊進行虛擬硬件加速；閃存轉(zhuǎn)換層模塊，用于根據(jù)測試信息對虛擬化閃存進行操作，得到操作結(jié)果。通過以上系統(tǒng)，本公開實施例可以使得閃存轉(zhuǎn)換層在所述系統(tǒng)上進行測試、設計、開發(fā)，從而定位關(guān)鍵路徑并分析閃存轉(zhuǎn)換性能，對FTL固件中空指針訪問等特殊異常具有較好的探測能力，提升FTL設計穩(wěn)定性及開發(fā)效率。