一種FPGA可編程邏輯單元的測(cè)試與定位方法
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201110204822.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN102841306B | 公開(公告)日 | 2015-06-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN102841306B | 申請(qǐng)公布日 | 2015-06-24 |
| 分類號(hào) | G01R31/3177(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 陳靜華;楊龍;張東曉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 北京飄石科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京東正專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 劉瑜冬 |
| 地址 | 100086 北京市海淀區(qū)蘇州街1號(hào)805 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種FPGA可編程邏輯單元的測(cè)試與定位方法,該方法包括如下步驟:(1)排列、配置FPGA邏輯單元;(2)初始化FPGA單元中的CLB模塊;(3)測(cè)試定位出錯(cuò)的CLB模塊。本發(fā)明的技術(shù)方案減少了測(cè)試CLB過程中的配置次數(shù)10倍之多,大大提高CLB測(cè)試效率;同時(shí)在保證CLB測(cè)試覆蓋率的前提下,通過產(chǎn)生規(guī)則布局的CLB陣列,實(shí)現(xiàn)了FPGA中CLB單元測(cè)試過程中的錯(cuò)誤定位。 |





