一種三維掃描儀掃描測量的輔助工具
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201420678029.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN204202572U | 公開(公告)日 | 2015-03-11 |
| 申請公布號(hào) | CN204202572U | 申請公布日 | 2015-03-11 |
| 分類號(hào) | G01B11/24(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 常青;王金葵;陳國建;張磊;羅振 | 申請(專利權(quán))人 | 天津敏捷云科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 天津?yàn)I??凭曋R(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 李震勇 |
| 地址 | 300384 天津市濱海新區(qū)空港經(jīng)濟(jì)區(qū)航天路77號(hào)院技術(shù)樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實(shí)用新型提供一種三維掃描儀掃描測量的輔助工具,所述輔助工具包括多個(gè)矩形且大小相同的定位基板,每個(gè)定位基板的正表面上規(guī)則排布有多個(gè)定位標(biāo)點(diǎn)。利用此工具,可以不用隨著被測量零件尺寸的變化,不斷的粘貼或者清理定位標(biāo)點(diǎn)。僅通過調(diào)整輔助定位基板的位置,合理布置出能夠滿足被測零件的輔助環(huán)境。當(dāng)輔助定位基板布局調(diào)整完畢后,可使用三維掃描儀附帶的定位標(biāo)點(diǎn)測量手段,進(jìn)行先期的定位標(biāo)點(diǎn)空間坐標(biāo)的采集工作,當(dāng)完成上述操作后,可進(jìn)行最后的點(diǎn)云采集工作。 |





