一種具有鰭式結構的半導體器件及其制備方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202210603401.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN114695115A | 公開(公告)日 | 2022-07-01 |
| 申請公布號 | CN114695115A | 申請公布日 | 2022-07-01 |
| 分類號 | H01L21/335(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L29/205(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 郭煒;戴貽鈞;葉繼春 | 申請(專利權)人 | 中國科學院寧波材料技術與工程研究所 |
| 代理機構 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 315201浙江省寧波市鎮(zhèn)海區(qū)莊市大道519號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請公開了一種具有鰭式結構的半導體器件及其制備方法,涉及半導體領域,該方法包括獲得形成有圖形化極性調節(jié)層的襯底;通過調節(jié)Ⅴ族源與Ⅲ族源的輸入比生長鰭式異質結,鰭式異質結包括在襯底未被圖形化極性調節(jié)層覆蓋的區(qū)域的氮極性異質結,以及位于圖形化極性調節(jié)層上的金屬極性異質結,氮極性異質結和金屬極性異質結的高度不同;制備電極,得到具有鰭式結構的半導體器件。圖形化極性調節(jié)層可以控制金屬極性異質結和氮極性異質結的分布,在不同Ⅴ族源與Ⅲ族源的輸入比下,金屬極性異質結和氮極性異質結生長高度不同,可直接生長出鰭式異質結,無需刻蝕,既可避免刻蝕帶來的損傷,還避免刻蝕損傷造成的溝道漏電通道,改善關態(tài)漏電流。 |





