半導體器件及制作方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110274455.2 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113066853A | 公開(公告)日 | 2021-07-02 |
| 申請公布號 | CN113066853A | 申請公布日 | 2021-07-02 |
| 分類號 | H01L29/06;H01L27/02 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 朱袁正;周錦程;葉鵬;楊卓;劉晶晶 | 申請(專利權)人 | 無錫新潔能股份有限公司 |
| 代理機構 | 無錫市興為專利代理事務所(特殊普通合伙) | 代理人 | 屠志力 |
| 地址 | 214000 江蘇省無錫市高浪東路999號B1號樓2層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供一種半導體器件,包括:P型襯底,在P型襯底上設有N型摻雜外延層,在N型摻雜外延層上設有高壓區(qū)和低壓區(qū),在高壓區(qū)與低壓區(qū)之間設有高低壓結終端區(qū),在低壓區(qū)和高低壓結終端區(qū)之間設有第一P型隔離柱,在高壓區(qū)和高低壓結終端區(qū)之間設有第二P型隔離柱,在第一P型隔離柱上連接第二P型隔離柱,所述第一P型隔離柱和第二P型隔離柱形成一個或多個封閉區(qū)域,高壓器件設置在所述封閉區(qū)域中。所述高壓器件為JFET器件、LDMOS器件、LIGBT器件、功率二極管器件中的一種或多種。本發(fā)明提高了芯片面積的利用率,從而降低了集成電路的成本。 |





