一種檢測印刷材料表面瑕疵的光學結構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201720342040.3 申請日 -
公開（公告）號 CN206594077U 公開（公告）日 2017-10-27
申請公布號 CN206594077U 申請公布日 2017-10-27
分類號 G01N21/88(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張一清;臧侃 申請（專利權）人 杭州數(shù)創(chuàng)自動化控制技術有限公司
代理機構 杭州奧創(chuàng)知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 杭州數(shù)創(chuàng)自動化控制技術有限公司
地址 311112 浙江省杭州市莫干山路1418-40號1303室（上城科技工業(yè)基地）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種檢測印刷材料表面瑕疵的光學結構，包括高反光源、漫反光源、透射光源；高反光源前設置有散射板，高反光源與被檢測材料法線夾角為∠A，高反光源用于檢測具有高反射特性的材料；漫反光源與被檢測材料法線夾角為∠B，漫反光源用于檢測具有漫反射特性上印刷質(zhì)量的檢測；所述透射光源即為底光源，所述透射光源前設置有散射板，透射光源與被檢測材料法線夾角為∠C，透射光源用于檢測被檢材料上的透明區(qū)域；所述夾角∠A、夾角∠B、夾角∠C之間的度數(shù)均不相同。本實用新無需使用機械方式及復雜的操作即可以對混合型反射率的材料成像檢測，也無需通過改變光學結構來適應不同的反射率材料，拓寬了使用的范圍。