一種量子密鑰相位調制的反饋檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121081326.3 申請日 -
公開（公告）號 CN215581174U 公開（公告）日 2022-01-18
申請公布號 CN215581174U 申請公布日 2022-01-18
分類號 H04B10/071（2013.01）I;H04B10/70（2013.01）I;H04L9/08（2006.01）I 分類 電通信技術;
發(fā)明人 姚海濤;劉鵬;高天 申請（專利權）人 北京中創(chuàng)為南京量子通信技術有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 211800江蘇省南京市浦口區(qū)浦濱路320號科創(chuàng)總部大廈B座22層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種量子密鑰相位調制的反饋檢測裝置。該裝置包括第一干涉儀、相位調制器、第一分束器、探測器；第二分束器的第一端口輸入量子光，第二分束器的第二端口和第三端口分別為第二分束器的第一端口對應的反射端和透射端，第二分束器的第四端口連接探測器；第三分束器的第一端口連接相位調制器，第三分束器的第二端口和第三端口為第三分束器的第一端口對應的反射端和透射端；第一分束器的輸入端連接相位調制器，第一分束器的反射輸出端與第三分束器的第四端口連接。本申請中，由于量子態(tài)調制中的干涉和檢測相位調制結果的干涉都是在同一干涉儀完成的，因此避免了量子光在兩次干涉出現差異，確保了探測器的探測值能夠準確地反映相位調制結果。