一種落砂均勻的圖像法粒度儀檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202120219503.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN214310038U 公開（公告）日 2021-09-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN214310038U 申請(qǐng)公布日 2021-09-28
分類號(hào) G01N15/02（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 柳鐘麗;楊濤;趙小虎 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州胤煌精密儀器科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海微策知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 湯俊明
地址 215300江蘇省蘇州市昆山市玉山鎮(zhèn)祖沖之南路1669號(hào)1208室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種落砂均勻的圖像法粒度儀檢測(cè)裝置，包括粒度儀本體，所述粒度儀本體的下端固定安裝有粒度儀底座，所述粒度儀底座等距分布于粒度儀本體的下端，所述粒度儀本體的中部固定安裝有測(cè)試箱體，所述測(cè)試箱體前端的上端固定安裝有弧形注料臺(tái)，所述弧形注料臺(tái)的上端固定設(shè)置有落砂注料口，所述粒度儀本體左端的前端固定安裝有數(shù)控操作面板，所述測(cè)試箱體上端的中部固定安裝有弧形蓋板。該落砂均勻的圖像法粒度儀檢測(cè)裝置，采用多個(gè)落砂均勻分離管可以均勻的分離落砂，落砂分離落在托盤上，便于進(jìn)行更加細(xì)致化的檢測(cè)工作，還可以配合相關(guān)的計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行顆粒形狀、整體分布等屬性的計(jì)算，使得該裝置的檢測(cè)能力得到進(jìn)一步的提高。