全形態(tài)測量激光干涉儀
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202020080097.2 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN211452213U | 公開（公告）日 | 2020-09-08 |
| 申請公布號 | CN211452213U | 申請公布日 | 2020-09-08 |
| 分類號 | G01B9/02(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 伍瑋;羅利娟;鐘海 | 申請（專利權(quán)）人 | 四川中科卓爾光學(xué)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 成都中匯天健專利代理有限公司 | 代理人 | 成都威博恩科技有限公司 |
| 地址 | 610000 四川省成都市自由貿(mào)易試驗區(qū)成都市雙流區(qū)西南航空港經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)牧華路二段1518號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種全形態(tài)測量激光干涉儀，包括殼體，殼體整體呈匚型，殼體上從上至下依次設(shè)有反射標(biāo)準(zhǔn)鏡組件、測試平臺和激光準(zhǔn)直鏡組件；測試平臺用于固定被測元件，其與殼體通過升降裝置連接，激光準(zhǔn)直鏡組件用于向測試平臺上的被測元件及反射標(biāo)準(zhǔn)鏡組件發(fā)射直線激光，反射標(biāo)準(zhǔn)鏡組件用于反射直線激光至激光準(zhǔn)直鏡組件。本實(shí)用新型測試平臺通過升降裝置與殼體連接，使得測試平臺可在激光準(zhǔn)直鏡組件和反射標(biāo)準(zhǔn)鏡組件之間進(jìn)行移動，以改變其相對位置。如此，工作人員僅在測試的時候調(diào)節(jié)測試平臺的位置即可改變測試過程中的透射率和反射率，使得攝像機(jī)上得到的條紋更加清晰，提高測試效率同時提高了測試準(zhǔn)確度。?? |
