一種紙張褶皺缺陷檢測(cè)方法及裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201911393094.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111145163B | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111145163B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-02 |
| 分類號(hào) | G06T7/00(2017.01)I;G06T7/62(2017.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 張洋;付茂栗;趙偉君;夏小東;張紹兵;阮波;李騰蛟;羅杰 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 深圳市中鈔科信金融科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市深軟翰琪知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 吳雅麗 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市福田區(qū)彩田路西中銀花園辦公樓A棟9B | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)一種紙張褶皺缺陷檢測(cè)方法及裝置，該方法包括：獲取待檢測(cè)圖像和待訓(xùn)練圖像；對(duì)待檢測(cè)圖像和待訓(xùn)練圖像進(jìn)行預(yù)處理，以提取出待檢測(cè)圖像的紙區(qū)圖像范圍以及待訓(xùn)練圖像的紙區(qū)圖像范圍；采用預(yù)設(shè)的檢測(cè)模型及其訓(xùn)練好的模型參數(shù)，計(jì)算當(dāng)前待檢測(cè)圖像的紙區(qū)圖像范圍的每個(gè)像素點(diǎn)分類，并分析每個(gè)像素點(diǎn)是褶皺的概率值，根據(jù)所得的每個(gè)像素點(diǎn)是褶皺的概率值來(lái)獲得褶皺區(qū)域；其中，檢測(cè)模型包括特征圖，該特征圖的每個(gè)像素值定義為標(biāo)識(shí)該像素是否是褶皺的概率值。本申請(qǐng)的上述紙張褶皺缺陷檢測(cè)方法，通過(guò)采用逐個(gè)像素進(jìn)行分類，具有漏檢風(fēng)險(xiǎn)極低的優(yōu)勢(shì)，同時(shí)具有較高的檢測(cè)精度和在線檢測(cè)實(shí)時(shí)性。?? |
