一種X射線熒光分析儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN96203532.7 申請日 -
公開（公告）號 CN2237241Y 公開（公告）日 1996-10-09
申請公布號 CN2237241Y 申請公布日 1996-10-09
分類號 G01N23/223 分類 測量；測試;
發(fā)明人 顏一鳴;丁訓(xùn)良;赫業(yè)軍 申請（專利權(quán)）人 中國航天工業(yè)總公司
代理機構(gòu) 航空航天工業(yè)部航天專利事務(wù)所 代理人 中國航天工業(yè)總公司;北京師范大學(xué)
地址 100830北京市海淀區(qū)阜成路八號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種用于測定試樣中元素含量及在試樣表面的分布的X射線熒光分析儀由X光源、樣品、探測器、放大器和計算機多道分析器等組成，其特點在于：在X光源和樣品之間加有一整體會聚X光透鏡，該透鏡為一個單一的、沒有支撐部件的多孔玻璃固體，內(nèi)有多個從所述固體一端貫通到另一端的X光導(dǎo)孔，且該玻璃固體由上述X光導(dǎo)孔壁自身熔合而成，本實用新型的分析靈敏度高、探測極限低、功率密度大，并可用于微區(qū)分析，且結(jié)構(gòu)簡單、造價低。